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X射線膜厚儀不僅具備非接觸測量的特性,還能實現極快的測量速度,為生產效率和質量控制帶來了提升。一、X射線膜厚儀工作原理基于物理穿透效應利用的是X射線對不同材料的穿透能力差異這一特性來進行測量。當一束單色化的X射線照射到待測樣品表面時,部分光線會被吸收或散射,其余則穿過薄膜到達探測器。通過分析透過后的X射線強度變化,結合已知的材料密度和其他參數,即可計算出薄膜的實際厚度。這種方法不依賴于樣品的具體形...
2025-09-15
2025-09-12
2025-09-04
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